電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述 多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求 原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM). 倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。
高阻抗（T歐級）涂層測試儀- 腐蝕電化學的產品概述 PGU IMP Micro是為德國弗勞恩霍夫陶瓷技術和系統研究所（Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme，IKTS）特殊設計的。在IPS愛譜斯標準阻抗恒電位儀PGU 10V-1A-IMP-S的基礎上升級成一個可靠測量高阻抗的恒電位儀PGU IMP Micro。
產品概述 此系統統合了電解池內的腐蝕性解質的腐蝕、機械拉伸和疲勞測試，以及外加的電化學腐蝕（施加或者測試），全面模擬評估了材料在使用環境下的腐蝕性研究。 電化學拉伸和疲勞測試儀
氫氣氣氛高壓腐測試系統該裝置的主要任務是研究氫氣氣氛下材料的耐受性。除了標準組件外，我們還安裝了安全部件。此安裝必須獲得德國TÜV的單獨認可，相當于ATEX單獨認可。
多通道涂層劃痕評價裝置是一種用于評估涂層耐劃痕性能的實驗設備。它具有多個通道，可以同時對多個涂層樣品進行劃痕實驗，提高了實驗效率和評估準確性。 該裝置通常由以下幾個部分組成： 劃痕試驗機：用于產生劃痕的設備，可以通過控制劃痕的力度、速度和劃痕長度等參數來模擬實際使用中的劃痕情況。
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